半导体自动光学(AOI)检测设备系统解决方案提供商
半导体中道、后道工艺制造领域自动光学测试设备制造商
半导体检测设备提供商
自动光学测试设备制造商
扫一扫，加微信客服
365天24小时业务热线：13829138856
365天24小时技术热线：13829138856
邮箱：huapin20151005@163.com
365天24小时业务热线：13829138856
365天24小时技术热线：13829138856
邮箱：huapin20151005@163.com
国内较早致力于划片后的晶圆缺陷检测设备的先驱者,现已成为国内外电子制造智能检测领域拥有较多自主知识产权、更具实力的研发创芯型企业.划片后的晶圆缺陷检测设备服务商致力于“软硬结合 共创互联”的芯技术企业,成为高端电子半导体超高精度AI+3D智能AOI光学检测设备国产替代领域的先进方案提供商,通过创芯技术、自动化、自研智能装备,自研工业软件专注打造软硬件结合智能划片后的晶圆缺陷检测整体解决方案,推动自动驾驶、低空经济、量子通信、6G关键技术、半导体晶圆与封测、微组装/电装/总装、汽车电子/3C电子、AI半导体芯片等众多领域的发展,赋能未来智能世界.划片后的晶圆缺陷检测领域相关标准制定者的使命是引领创芯,通过深刻的洞察力,提供有价值的芯片测试测量方案和技术服务,让芯片检测轻而易举.划片后的晶圆缺陷检测设备开发者始终坚持“以技术引导市场、以质量塑造品牌、以精益求精的精神”铸造行业的典范,秉承着“专业经营、诚信服务、客户至上”的服务理念,成为世人瞩目的国际知名划片后的晶圆缺陷检测设备品牌企业.对于有半导体封装视觉检测需求的企业,划片后的晶圆缺陷检测设备承诺提供定制化服务,助力客户实现半导体良率的飞跃.如需了解更多详情或寻求合作,欢迎联系我们。”
半导体晶圆的制造流程复杂，前、中、后道各环节中均有大量的量测和检测需求
传统算法无法满足同时对多种缺陷进行检测的需求,同时数据集数据不足,对机器学习也是个挑战
极其细微的缺陷都会对产品的整体质量产生巨大
影响,而且会造成生产成本的浪费
线束内部的虚焊、断线、接触不良等问题
肉眼无法识别
人工检测速度慢，无法满足大批量生产需求
人工检测存在主观性,难以保证检测结果的一致性
全国服务热线：13829138856
相比传统检测方法,划片后的晶圆检测能够发现更多隐藏缺陷
自动检测大大提高了生产线效率,人工成本降低
通过严格的过程控制,产品质量得到大幅提升
产品可靠性的提升直接反映在客户满意度上
返工率降低:及时发现问题，避免批量性晶圆质量安全事故
360° 全景扫描,高速度、高精度、低成本和全角度覆盖盲区
不破坏产品外观、无需拆解产品即可完成内部检测，避免对产品造成任何损害。
能够发现微米级的细小缺陷清晰可见,确保精度检测结果的
准确性。
检测过程迅速,提升生产效率,缩短交付周期。
提供产品内部的完整影像,便于更全分析晶圆缺陷质量问题。
零负样本AI算法+ADC自动分类与统计软件,输出缺陷报告。
立即咨询：13829138856
| 适用产品 | 6~12"片环和字母环晶圆 |
| 正面检测 | 2X, 5X, 10X |
| 背面检测 | 可实现与正面同轴同步检测 |
| WPH | 30~40WPH@12"; 60~80WPH@8" |
背面检测：脏污、崩边、针痕、划伤等
次品标记：e-mapping 标识功能，选配点墨标识功能
使用深度学习的缺陷检测工具在小样本数据的情况下
也可对晶片外观的各种缺陷进行识别
自研的视觉缺陷检测算法,可提供缺陷自动光学检测方案
可覆盖近20种量测及缺陷需求
结合运控和视觉技术,能够快速实现对晶圆片的精确识别定位
适用于晶圆生产各环节
对批量CSP、COB、Flip‑Chip、Mini/Micro LED进行快速抽检,追踪来料与制程波动,降低返修与客诉。
原图/对比图、空洞率统计、缺陷标注、抽检报表与工艺改进建议；支持与MES/条码关联。
样品无需切片即可复测；结合图像标注与报告模板,实现工程与品质的闭环追溯.不会影响晶圆电性能或封装结构。
您可以来我司进行系统的设备培训与指导,掌握划片后的晶圆缺陷检测设备的测试技能。
作为创业型公司,我们不追求利益更大化,我们给您更多的划片后的晶圆缺陷检测设备技术指导。
同等质量比价格同等价格比质量同等服务比技术价格低于同行
咨询电话：13829138856
确认器件类型、失效现象与判定标准。
选择更佳管电压/电流、曝光、几何放大与倾角，建立空洞率/缺陷判定模板。
按SOP执行，产出带标注的高清图像与统计报表。
结合图像证据，反馈固晶、点胶、回流、键合等工艺优化方向，形成闭环。
定期向客户发放满意度调查问卷,收集客户意见和建议。
根据客户反馈和市场需求,持续优化产品设计和功能,
提升产品竞争力。
博海多年口碑，获得60多个行业上百客户好评
BOHAI做专业的划片后的晶圆缺陷设备视觉检测系统
全国服务热线：13829138856
划片后的晶圆缺陷检测设备核心零部件均采用国外进口
国外零部件相比较国产具有更稳定、使用寿命更长、性能更佳等优点
软件自主研发,划片后的晶圆缺陷检测设备视觉图像处理对软件研发实力要求高
划片后的晶圆缺陷检测设备外观研发设计,更符合用户的使用习惯与审美
划片后的晶圆缺陷检测设备质量不输给同行,可实际对比检测效果
同配置的划片后的晶圆缺陷检测设备价格不高于同行
划片后的晶圆缺陷检测设备保修期内,非人为损坏情况下,我们免费为您提供售后
划片后的晶圆缺陷检测设备保修期外,我们则根据实际情况收取相应的费用
认真做好每一天!我们更具综合实力!我们更懂您的芯片品控需求!敬畏您的每一份钱
我工作！我快乐！我成长！我快乐是我们的真实写照，帮助客户节约了成本，保障了设备的正常运行
多年前,我的第壹个客户对我说："我知道你公司刚成立,也没有生产车间,但我看中的就是你做事踏实",于是我决定老实做人、用心做事,创办自己的半导体中道、后道工艺制造领域自动光学测试设备制造商,拥有一支快捷协作的销售和售后服务团队,研发、设计工程师在算法、光学、机电以及自动化控制、数据中心、人工智能等领域有深厚的丰富技术积累,为您提供半导体检测设备研发、设计、生产、销售一站式服务!诚信打造,安全保障,用心服务,助力中国IC、IGBT、LED、半导体IDM厂、封装厂产业发展!谢谢一路支持我的同事与合作伙伴。
全国业务直线/研发技术热线
138-2913-8856邮箱
huapin20151005@163.com公司地址
广东省东莞市南城区鸿福路中环财富广场12楼1216
