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时间：2025-09-19 编辑：半导体检测设备服务网
晶圆缺陷视觉检测设备常见问题
检测是否会损伤样品？
晶圆缺陷视觉检测为无损成像方式，不会影响LED电性能或封装结构。
晶圆缺陷视觉检测设备可覆盖哪些器件？
晶圆缺陷视觉检测设备适用于SMD、COB、CSP、Flip‑Chip、Mini/Micro LED及模组级板卡。详情以来样评估为准。
晶圆缺陷视觉检测设备能输出哪些结果？
晶圆缺陷视觉检测设备原图/对比图、空洞率统计、缺陷标注、抽检报表与工艺改进建议；支持与MES/条码关联。
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