合肥知常光电科技有限公司概况

合肥知常光电科技有限公司成立于2012年3月，由海归人才与本土企业家联合创办。企业以光学及光电子技术为核心，致力于高端光机电一体化仪器、设备及装备的研发生产和销售。企业为国家高新技术企业、安徽省“专精特新”企业，建有超光滑表面无损检测安徽省重点实验室、安徽省光电精密测试技术工程研究中心（筹）、安徽省院士工作站、安徽省博士后科研工作站、安徽省企业技术中心等研发平台。

企业成立至今一直专注高端仪器设备领域，深耕光学缺陷检测技术与设备研发，创造了多项国际先进、国内唯一的成果和产品，成功开发多款高端光学缺陷检测仪器与设备，在科学研究与工业化生产领域都得到了重要应用。

企业定位：聚焦核心光学技术，打造仪器设备“变形金刚”，努力成为国内高端半导体检测设备行业领军企业，为社会、员工和股东创造价值。

知常团队

企业核心团队包括了院士团队、国家高层次人才、科技部创新创业人才、长江学者、国家杰青、安徽省战略新兴产业技术领军人才等多位国家级和省级高端人才。

在技术团队方面，人员的专业背景涵盖了光学、机械、电子电气、软件算法、检测工艺等多个技术领域，具有丰富的高端芯片缺陷检测设备开发经验。

管理团队多名人员拥有国际知名商学院高级工商管理学位（EMBA），曾在多家科技公司担任高管，拥有丰富的管理经验和产业经验。

知常荣誉

企业坚持自主创新，承担多项国家级和省部级研发项目，申请各类专利209项，获授权专利158项；获省部级科技一等奖、二等奖各1项；参与多项国家标准、团体标准行业标准的制定。

多光谱智能透镜外观检测仪产品介绍

多光谱智能透镜外观检测仪(AOSI-4000S)，主要用于各类光学元件、光学晶体、光学陶瓷的全自动表面质量检测。

本设备自动化程度高，批量上料，自动送检，智能检测，根据检测结果智能分拣，并生成统计日志。检测结果可根据需求进行保存，保证检测结果可溯源性。

半自动智能透镜外观检测仪产品介绍

半自动智能透镜外观检测仪(OSI-4000S)，主要用于光学透镜的外观质量检测，具有整盘上下料、自动检测、标准选择或自定义、自动判断OK/NG、结果输出等功能。

设备配备特殊设计的光学检测系统，针对透镜元件复杂多变的面型和镀膜工艺，高灵敏度的检出包括划痕、麻点在内的各类外观缺陷，相比人工具备可靠的稳定性和可重复性。

平面元件缺陷检测设备产品介绍

平面元件外观缺陷检测设备(AOSI-4000F)主要用于平面光学元件的全自动外观质量检测，具有自动化程度高，批量上下料，自动传送，智能检测，根据检测结果智能分选，并生成每个元件的检测报告。设备可生成检测日志，按不同时间周期进行元件检测数量、缺陷检测类型比例等条件进行日志生产，观察生产良率变化，对生产工艺改进做出指导。

碳化硅缺陷检测仪产品介绍

碳化硅缺陷检测设备(NOVA-2000)，用于SiC抛光衬底片和同质外延片的缺陷检测，针对SiC缺陷的多样性设计专用多通道光学检测系统和缺陷自动检测分类算法，对微管、层错、三角形缺陷、台阶聚集等各类缺陷进行检出和提取分类，对SiC质量控制和工艺提升有显著作用。

玻璃晶圆缺陷检测设备产品介绍

玻璃晶圆缺陷检测设备(NOVA-2000-G)，是用于透明或半透明玻璃晶圆衬底的缺陷检测设备，可检出颗粒物、划痕、凹坑、凸起、崩边、裂纹等缺陷，对透明晶圆的质量控制具有重要作用。

玻璃晶圆缺陷检测设备集成明场、暗场等多种检测模式，对各类缺陷提供可靠的缺陷信息，结合缺陷自动检测与分类算法，提取包括缺陷类型、尺寸、坐标、统计数据等在内的各项缺陷数据，生成晶圆缺陷检测报告供用户进行质量评估和判定。

图形晶圆缺陷检测设备产品介绍

图形晶圆缺陷检测设备(AMM1-2000)，用于半导体制造的前道检测，对图形晶圆的宏观缺陷，如划痕、颗粒脏污、腐蚀、图形结构缺陷等进行检测，对集成电路芯片的性能和可靠性保证有重要作用。AMMI-2000集成明场、暗场等多种检测模式，对图形晶圆各类缺陷提供可靠的缺陷信息，结合缺陷自动检测与分类算法，提取包括缺陷类型、尺寸、坐标、统计数据等在内的各项缺陷数据，生成晶圆缺陷检测报告供用户进行质量评估和判定。

铌（钽）酸锂缺陷检测设备产品介绍

铌(钽)酸锂缺陷检测设备(NOVA-2000-LN)，是用于铌酸锂、钽酸锂等衬底晶圆的缺陷检测设备，可兼容黑化、半黑化、全透明等不同工艺类型，可检出颗粒物、划痕、凹坑、凸起、崩边、裂纹等缺陷，对晶圆的质量控制具有重要作用。

铌(钽)酸锂缺陷检测设备(NOVA-2000-LN)集成明场、暗场等多种检测模式，对各类缺陷提供可靠的缺陷信息，结合缺陷自动检测与分类算法，提取包括缺陷类型、尺寸、坐标、统计数据等在内的各顶缺陷数据，生成晶圆缺陷检测报告，供用户进行质量评估和判定。

深紫外光学吸收测量仪产品介绍

深紫外光学吸收测量仪(PTS-DUV-2000/PTB-DUV-2000)，是一款基于激光诱导光热检测技术，专为深紫外波段光学材料和元件吸收特性检测分析而开发的高灵敏度精密光学测试仪器。

激光量热吸收测量仪产品介绍

激光量热吸收测量仪 (LC-2000), 是一种基于激光量热法测量光学元件弱吸收的光学检测设备。

由泵浦激光对光学元件进行辐照加热，采用高精度温度探测器对激光辐照区域进行温度测量，从而获 得光学元件对该波长下的激光的吸收信息。

LC-2000 适用于各类光学薄膜和光学元器件吸收率的检测和分析。根据客户具体需求，可进行紫外

可见或者近红外波段的精密测量。对于光学材料质量生产指导具有重要作用。

光学元件激光损伤检测及预处理设备产品介绍

光学元件激光损伤检测及预处理设备(LDT-2000-C)，主要用于测试光学元件的激光损伤阈值以保证放置于光路中的各类光学元件的强激光负载性能，应用范围包括光学元件激光损伤测试、体材料激光损伤测试镀膜工艺优化等。

光学吸收测量仪(简化版)产品介绍

光学吸收测量仪(简化版)PTS-1000/PTB-1000,专为薄膜、晶体、熔石英玻璃等光学材料和元件设计用于表面和体吸收特性的精密测量分析。

光学元件激光损伤检测及预处理设备产品介绍

光学元件激光损伤检测及预处理设备(LDT-2000-C)，主要用于测试光学元件的激光损伤阈值以保证放置于光路中的各类光学元件的强激光负载性能，应用范围包括光学元件激光损伤测试、体材料激光损伤测试镀膜工艺优化等。

多模态表面缺陷检测仪产品介绍

多模态表面缺陷检测仪(MMDI-2000)，结合全口径缺陷快速识别与子孔径高灵敏度、高分辨率显微成像的检测方式，对表面缺陷尺度、位置、形态进行统计分析，并可结合使用光热弱吸收、显微成像等不同模态检测用户关注的缺陷区域，获取关注区域的缺陷信息;也可以利用微分干涉相衬显微成像技术，实现凸起和凹坑的区分。

激光共聚焦显微镜产品介绍

激光共聚焦显微镜(LCM-2000)，具备光学显微成像与激光共聚焦成像双重检测模式，主要用于各类材料的表面形貌与表面缺陷的三维检测分析。

光学吸收测量仪(标准版)产品介绍

光学吸收测量仪(标准版)PTS-2000/PTB-2000，是一种基于激光诱导效应的光学检测设备。可以对光学薄膜、光学晶体、激光晶体、各类石英等材料进行吸收缺陷测量和吸收均匀性分布测量。

多模态表面缺陷检测仪产品介绍

多模态表面缺陷检测仪(MMDI-2000)，结合全口径缺陷快速识别与子孔径高灵敏度、高分辨率显微成像的检测方式，对表面缺陷尺度、位置、形态进行统计分析，并可结合使用光热弱吸收、显微成像等不同模态检测用户关注的缺陷区域，获取关注区域的缺陷信息;也可以利用微分干涉相衬显微成像技术，实现凸起和凹坑的区分。

亚表面缺陷检测仪产品介绍

亚表面缺陷检测仪(SSDI—2000 )，集成包括光学显微成像、激光共聚焦、荧光共聚焦选配等成像在内的多种检测模式，用于光学元件表面、亚表面缺陷的检测与分析，可在深度方向对样品进行分层检测。

光学透反射率测量仪产品介绍

光学透反射率测量仪(HTR-1000)，主要用于光学元件的透射率、反射率测量，能够对反射率高达99.99%或透射率高达99.99%的光学元件的透/反特性进行高精度测量。主要针对小口径光学元件，能够快速、精确、高重复性的检测光学元件的透射/反射特性。

大口径元件吸收缺陷检测仪产品介绍

大口径元件吸收缺陷检测仪(PTM-2000-LA)，基于光热扫描显微成像技术，适用于各类大口径固体表面及亚表面缺陷的检测和分析，特别是各类大口径光学薄膜、光学元器件表面及亚表面吸收缺陷的检测和分析。本系统是一款非接触式、高分辨率、全自动化检测仪器，可根据用户具体需求进行紫外、可见或红外波段的精密检测和分析。

大口径元件散射缺陷检测仪产品介绍

大口径元件散射缺陷检测仪(LSDI-2000-LA、LSDI-3000-C)，适用于大口径光学材料、半导体材料和金属等材料抛光后的表面缺陷检测和分析。本设备是一款非接触式、全自动的检测仪器，能够快速检测待测表面的划痕、麻点、脏污等特性。

大口径元件缺陷多模态检测仪产品介绍

大口径元件缺陷多模态检测仪(MMDI-2000-LA)，结合全口径缺陷快速识别与子孔径高灵敏度、高分辨率显微成像的检测方式，可利用激光散射对大口径光学元件进行全口径快速扫描成像，对缺陷尺度、位置、形态进行统计分析，并结合使用光热弱吸收、明场显微成像、暗场显微成像、激光共聚焦显微成像等不同模态检测用户关注缺陷区域，获得关注区域的缺陷信息。

大口径元件高透/反射率测量仪产品介绍

大口径元件高透/反射率测量仪(HTR-2000-LA)，主要应用于光学元件的透射率、反射率测量，能够对反射率高达99.99%或透射率高达99.99%的光学元件的透/反特性进行高精度测量。能够适用于不同尺寸，特别是大口径尺寸的光学元件，并根据元件尺寸信息自动规划检测路径，满足客户对感兴趣区域的透射/反射特性检测。

其他定制设备

可根据用户需求，提供各类定制化晶圆AOI检测设备解决方案,包括光学、半导体等材料的表面、亚表面、体内缺陷检测,吸收率反射率、透射率等检测。

邮箱：info@zc-hightech.com

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