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时间：2025-08-26 编辑：半导体检测设备服务网
芯片缺陷检测芯片外观缺陷检测系统方案
随着科技的发展，在现在的工业市场上，芯片的品种非常多，并且在不断增加。每种芯片产量少则几千件，多则上万件。
为保证芯片的尺寸精度，每一篇芯片需要检测设备进行全检，并根据不同的尺寸公差，将产品分成优、良、差三个等级。
传统的解决方案采用影像测量机，一个一个进行人工操作测量分级，不仅需要在人力上投入大量的财力，并且无法保证良品率。面对与日俱增的巨大工作量，如何使用一条自动化的测量分拣料线，解决客户自动检测、筛选的同时，保证高精度的测量结果，是客户迫切希望解决的难题。
解决方案：一条自动化的测量分拣料线，解决客户提出的问题。
将机器人抓取、视觉识别、自动测量和数据传输技术与影像测量机控制和测量软件进行了整合。
客户将产品摆放到托盘，每个托盘里可以放置100多件产品，然后将料盘码放在料线上，按一下启动按钮，自动料线将自动完成测量和分拣工作，将产品摆放在三种不同的料盘中，并码垛输出。
项目关键技术
1.高精度的视觉识别芯片位置，并引导测量机到达测量位置；
2.影像测量机软硬件与外部设备的数据交互；
3.微小零件的视觉识别与自动拾取；
4.芯片品种多样，更换频繁，需更柔性化的操作软件
凭借高效强大的自动化解决方案，为客户解决检测难点的同时，大幅度提升检测效率、产品精度，该方案获得客户的高度赞扬，如果你的工业生产线中需要用到机器视觉检测方面的技术，那么不妨和我们聊聊，我们会先根据你的需求分析，免费从一个专业的角度来给你一个合适的方案，再听取你的意见，即使没达成合作，我们也希望能多认识个朋友。
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多年前,我的第壹个客户对我说："我知道你公司刚成立,也没有生产车间,但我看中的就是你做事踏实",于是我决定老实做人、用心做事,创办自己的半导体中道、后道工艺制造领域自动光学测试设备制造商,拥有一支快捷协作的销售和售后服务团队,研发、设计工程师在算法、光学、机电以及自动化控制、数据中心、人工智能等领域有深厚的丰富技术积累,为您提供半导体检测设备研发、设计、生产、销售一站式服务!诚信打造,安全保障,用心服务,助力中国IC、IGBT、LED、半导体IDM厂、封装厂产业发展!谢谢一路支持我的同事与合作伙伴。
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