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时间：2025-08-27 编辑：半导体检测设备服务网
太阳能硅片视觉检测硅片外观缺陷检测方案
太阳能硅片视觉检测系统将检测测量过程完全自动化，避免人员干预，实现高效率、高重复性、高可靠性的检测测量流程。
广泛应用在太阳能硅片生产流水线上，在不影响生产线产能的情况下，确保了带有缺陷的每一个太阳能硅片不会流入下一道生产流程。
太阳能硅片视觉检测系统技术特点
检测精度高，检测缺陷精细
检测精度高达0.02mm，可以检测十分精细的缺陷。
颜色分选种类多,高达24种
根据硅片颜色差异，对硅片进行24种颜色差异分类。
所检缺陷种类多
参数名称技术规格
检测规格155*155 mm — 165*165mm
检测面正面和反面
检测速度每分钟80片，根据送料速度而定。
检测分辨率0.02mm（纵向）* 0.02mm（横向）
最小点缺陷检测精度0.002mm2
最小线缺陷检测精度0.02mm（宽）*1mm（长）
最小色差检测（rE）rE>=3
颜色分类种类24种
检测缺陷类型裂纹、缺边、亮线、色差、氧化、划痕、黑圈、油污、晶格、黄斑、绒丝、脱晶、水痕、脏污、花片、断栅、漏浆等缺陷
因需求不同，所以每个案例都也不尽相同，如果你的工业生产线中，需要用得上机器视觉方面的技术，那么不妨和我们聊聊，我们会先根据你的需求分析，免费从一个专业的角度来给一个合适你的方案，然后再听取你的意见，再详细洽谈，最后即使没达成合作，我们也希望能多认识个朋友。
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