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时间：2025-09-04 编辑：半导体检测设备服务网
芯片切割后的视觉定位及视觉测量
在芯片制造过程中，在芯片切割后的视觉定位及视觉测量是非常重要的，对于后续的封装、测试等工序至关重要，因为只有芯片被精确定位，才能保证后续操作的准确性和可靠性。
康耐德芯片视觉检测系统针对这方面主要有以下功能：
在视觉定位方面：
精确定位芯片位置：机器视觉系统能够快速准确地找到切割后的芯片并确认其位置。
适应复杂形状和变化：对于形状不规则或在切割过程中发生变形的芯片，视觉定位系统可以通过模板匹配、边缘检测等，实现高精度定位。
提高生产效率：视觉定位系统可以一次性定位多个芯片，提高了生产效率，减少了生产时间。
图片1.png 在视觉测量方面：
测量芯片尺寸：视觉测量技术可以精确测量芯片的尺寸，包括长度、宽度、厚度等关键参数
检测切割间隙和崩缺：在芯片切割后，视觉测量系统能够检测切割间隙是否符合要求，以及芯片是否存在崩缺等缺陷。
实现亚微米级精度：现代机器视觉测量技术能够达到亚微米级的测量精度，满足半导体行业对高精度测量的严格要求。
康耐德芯片视觉检测系统在芯片切割后的视觉定位及视觉测量方面，对于提高生产效率、保证产品质量、降低生产成本等方面具有显著优势，是半导体制造过程中不可或缺的重要环节.
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