超高吞吐量应用时间标记器HydraHarp 500 L即将问世

在光子计时的尖端领域，每一次性能的跨越都意味着科研视野的进一步拓宽。近日，德国PicoQuant公司正准备扩充HydraHarp家族新成员——即将推出全新的HydraHarp 500 L。这款专为超高吞吐量应用打造的时间标记器，正以其卓越的可扩展性与数据处理能力，重新定义行业的技术标杆。

HydraHarp 500 L的核心在于其对海量数据采集的极致追求。它不仅继承了家族基因中标志性的1 ps时间分辨率与2.5 ps RMS的极高时间抖动精度，更在通道规模上实现了质的飞跃，支持多达64+1个灵活通道。这种强大的并行处理能力，在配合小于680 ps的超短死区时间，使其能够轻松驾驭最复杂的实验环境。

为了彻底消除数据传输的瓶颈，HydraHarp 500 L首次采用了USB 3.2 Gen 2×2接口作为动力核心，确保了数据流在超高计数率下依然能够稳定、高速地完成传输。此外，还全面支持White Rabbit同步协议及外部FPGA扩展，为实验应用和海量数据处理提供了前所未有的灵活性。

随着2025年HydraHarp 500的发布及即将问世的HydraHarp 500 L，我们正在不断重新定义光子计时领域的可能性，为当今及未来的光子学研究提供卓越的精度、可扩展性和灵活性。

“为了满足不同科研场景对通道数量与触发模式的差异化需求，HydraHarp 500系列提供了从极致精细到超大规模扩展的全方位解决方案：

HydraHarp 500 - S

极致精度与灵活性

1 ps时间分辨率

4 通道（基础版），5 – 8（基础版+通道升级）

软件可调CFD或边沿触发

HydraHarp 500-M

中等规模多通道应用

1 ps时间分辨率

4 通道（基础版），5 – 16（基础版+通道升级）

边沿触发

HydraHarp 500-L（新品）

超高吞吐量与大规模扩展

1 ps时间分辨率

多达64+1个通道

灵活触发配置

如需了解更多技术细节，欢迎随时联系我们。

GEMINI-X干涉仪高光谱成像模块：为显微镜注入多维光谱“慧眼”

发布时间：2026-01-13阅读次数：35次

显微镜高光谱成像模块，即插即用，兼容所有显微镜与传感器。

近日，NIREOS公司隆重推出了全新升级产品——GEMINI-X干涉仪高光谱成像模块。作为初代GEMINI干涉仪的高通光孔径进化版，GEMINI-X专为显微镜下的高光谱成像设计，搭配单像素探测器与TCSPC板卡进行时频分辨测量，可轻松将任何现有显微镜升级为功能强大的高光谱成像系统，真正实现“一机多能、即插即用”。

GEMINI-X核心优势：

①全面兼容，灵活搭配

新升级的GEMINI-X拥有20mm通光孔径，可无缝耦合大面积二维传感器 ，并兼容市面上任何带有相机接口的显微镜，无需更换整套设备，大幅降低升级成本。

②多模态高光谱成像，覆盖广泛

适用于透射、反射、光致发光（PL）和电致发光（EL）的高光谱成像，GEMINI-X均能提供高质量的高光谱数据。更支持时间分辨发射光谱（TRES）、并适用于泵浦-探测实验、拉曼光谱及量子应用研究，满足科研的多元化需求。

③软件生态完善，开箱即用+定制开发

GEMINI-X提供一系列专用软件包：

高光谱套件

包含采集应用程序和HyperLAB软件，实现无缝的高光谱数据采集与高级分析。

Tres App

提供即插即用的工作流程，用于控制GEMINI和大多数TCSPC设备，实现快速获取完全校准的TRES光谱图。

完整例程

一个包含关键GEMINI-X功能的LabVIEW和Python开源软件包，作为示例提供以支持定制软件开发。

应用示例：

典型应用领域：

透射与反射成像

光致发光（PL）成像

电致发光（EL）成像

时间分辨发射光谱（TRES）

泵浦-探测（Pump-Probe）、拉曼光谱、量子研究

微生物学

半导体与材料科学

法医学（司法鉴定）

微塑料检测

文物保护（艺术品保护）

在物理尺寸上，GEMINI-X同样表现出色：仅176 × 44 × 55 mm的紧凑机身与0.5 kg的轻量化设计，便于集成到复杂光路中；配合推荐的32 GB RAM + SSD系统，确保海量高光谱数据流畅处理。

GEMINI-X以卓越的灵活性、高灵敏度与易用性，助您看见“看不见”的光谱信息。

FLA系列光纤链路分析仪新增850nm波段，赋能多模光纤与器件精密测量

为更好满足市场对850nm波段光器件精准测量的需求，FLA系列光纤链路分析仪正式拓展850nm测量新波段，面对多模光纤链路、850nm光器件及芯片级样品，提供更高效、更完整的检测解决方案。

FLA系列光纤链路分析仪

核心性能参数（850nm波段）

测量长度：500m

空间分辨率：2mm

中心波长：850nm

回损动态范围：70dB

回损重复精度：±0.5dB

插损动态范围：15dB

插损重复精度：±0.2dB

单次测量时间：＜15s

（注：支持定制200微米空间分辨率，测量长度50米，欢迎垂询。）

多元应用场景，覆盖产业全环节

光器件精准测试：可对500米内的850nm光器件进行精确的长度定位以及插损、回损一体化测试，为器件性能评估提供可靠数据。

分布式链路诊断与失效分析：能够对整条850nm多模光纤链路进行分布式测量，快速定位并分析连接点、断裂点、弯曲损耗等故障或性能劣化点。

全面支持多模光纤：支持850nm窗口的多模光纤测量，确保结果的准确性与可靠性。

芯片级高精度定制方案：针对前沿科研与高端制造可提供50米内200微米超高空间分辨率的定制型号，专攻850nm波段芯片级样品的精密测量。

FLA系列光纤链路分析仪通过本次850nm波段拓展，实现了从常规到特殊光纤链路测试需求的全覆盖。无论在通信工程、光器件生产制造，还是科研领域的高精度检测中，均能提供稳定、精准且高效的测量支持，持续为用户创造更高检测价值。