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时间:2025-11-18 编辑:半导体检测设备服务网
深圳市荧鸿科技有限公司简介
深圳市荧鸿科技有限公司是香港旭隆国际有限公司在中国投资设立的独资公司 ,荧鸿科技负责中国市场的开发及售后服务,旭隆是一家全球领先工业表面检测灯具和特需检查灯具的制造商和供应商,我们有超过10年的行业经验,我们掌握了高压气体放电紫外灯的技术,以及多个光学透镜和镜片组合的核心技术(每个LED前面通过添加3-4个不同的光学透镜或镜片,通过不同的角度、高度光学透镜和镜片的组合,可以按照客户的要求人为的制造出特殊的光源),我们的优势是可以定制,非标准化生产,产品已经出口到30多个国家和地区,让全球30多个国家的客户受益。
深圳市荧鸿科技有限公司研发和设计的产品有几大系列:表面检查灯系列(手持式表面检查灯,悬挂检查灯,桌面式检查灯,半导体材料检查灯);紫外无损检查灯系列(,便携式紫外线探伤灯,手持式紫外线探伤灯,悬挂式紫外探伤灯,黑光灯);荧光检漏灯系列;实验室检查灯系列和激发光源系等几大系列,近100款不同的产品;产品广泛用于:LCD滤光片、偏光板、晶圆、半导体、 玻璃或金属表面刮痕及灰尘检查,汽车,航空等不同领域。
专业,诚信,共赢是我们核心宗旨,期待与你合作,共创美好的未来。
半导体半自动化瑕疵检测设备简介
深圳荧鸿半导体半自动化瑕疵检测设备由三轴自动调节设备SLT600(三轴手动/电动旋转台+控制器)、瑕疵检测灯(一般配SL8500-GY)组成。SLT600半导体旋转台采用电动控制,响应速度快,控制精度高可实现复杂运动控制和高效能量转换;具备高稳定性和重复性,可检测um级别瑕疵,被各半导体检测设备厂商广泛应用。
半导体半自动化瑕疵检测设备检测原理
半导体瑕疵检测灯SL8500利用适合的LED灯源,通过光学镜片折射出特殊波长的光源,照在工件表面折射出光路,使得操作员肉眼可识别出工件表面的灰尘、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵点。三轴旋转台通过控制器进行移动,可全面检测不同位置的瑕疵,解放双手。
半导体半自动化瑕疵检测设备检测步骤
将待检测的半导体材料安装在三轴控制台上,瑕疵检测灯安置于材料前。控制台有XYZ三轴,通过控制器可对材料进行上下左右移动,可让材料全方位经过瑕疵检测灯的照射,人眼从而发现半导体材料表面瑕疵。
SLT6000三轴手动、电动旋转台参数
型号:SLT600旋转台
1.X/Y轴电动行程:500(±250)mm Z轴电动行程:250mm D
2.X/Y手动行程:±75mm ; 旋转手调:±120° 倾斜手调:±90°; 夹紧手调:100mm
3.旋转台尺寸:78*78CM,重量38KG 控制台:38*25*16cm 8KG
SLT600手动、电动旋转台的特点:
1.旋转台由通常由铝合金等材质制成,采用精密加工的导轨和传动部件
2.结构设计紧凑,操作方便,适用于空间有限的环境。通过手动调节实现旋转,重复性和精度较高
3.应用:常用于科研、实验室等对精度和稳定性要求较高的场合,如光学实验、精密仪器搭建等
晶圆瑕疵自动检测机简介
A1000为深圳荧鸿半导体外观瑕疵自动检测机,可自动化检测晶圆表面的微小瑕疵。每台晶圆瑕疵自动检测机配一台显示器,相关信息可直观明了查看。
紫外线检测灯SL8803T简介
紫外线检测灯SL8803T是一款工业便携式紫外线检测灯,常用于半导体检测、无尘检测、荧光检漏、荧光蛋白激发等。SL8803系列采用LED冷光源技术,内置进口5W或15W 365nmUV LED和光学镜头,LED寿命为30,000小时。 紫外线检测灯SL8803T强度为20000-40000uw / cm2,最高紫外强度能达到40000uw/cm2,照射面积直径可以达到160MM(测试距离30cm);头部采用特别紧凑的设计,小巧的筒身能够方便携带到狭小的空间工作。手持款式的设计底下可加装三角支架,方便不同场景的测试;头部留有滤光片的接口,有特殊的要求,还可以加定制的滤光片以转换成不同波长光源
紫外线检测灯SL8803T参数
SL8803T-Standard Version;简称SL8803T-S(标准款);SL8803T- Hight Version(简称SL8803T-H(超级版本)
1.峰值波长:365 – 370nm;
2.紫外线强度: 21000uw/cm2-(SL8803T-S); 38600uw/cm2-(SL8803T-H)在30cm距离-可以按照客户的要求设计 ;
3.紫外线灯数: 3× 5-15W 365NM UV LED; LED平均寿命是30000小时
4.电源:交流100-240AC/50H充电器 ; 直流聚合物电池组
5.照射面积: 160MM直径的光圈在30厘米距离
6.紫外线光强的稳定性: > 90 %
7.产品尺寸:7.产品尺寸: 69*136*158mm; 净重: 0.78KG(不含配件)
我们掌握了核心技术,我们可以根据客户的需求调整紫外线的强度
紫外线检测灯SL8803T特点
1.UVA的紫外强度高达21000-40000uw/cm2以上,测试距离是30cm;能满足各种工业测试的需求。
2.使用我们多个光学透镜组合的技术,可以按照客户的要求定制不同的检漏灯
3.手持款式的设计,另外可以加三角支架,方便不同场景的测试;头部留有滤光片的接口,有特殊的要求,还可以加定制的滤光片
晶圆瑕疵检测灯SL9300简介
晶圆瑕疵检测灯SL9300系列是一款便携式黄绿光/白光表面检查灯,是继SL8600和SL8500系列之后开发出的一款用于半导体表面瑕疵的检查灯;配有60CM的鹅颈软管和磁铁底座,可随意改变操作方向。晶圆瑕疵检测灯SL9300直径为63MM,高度116MM,采用旋转或无极调光。晶圆瑕疵检测灯SL9300的亮度能高达18万LX,能满足客户的基本外观测试需求;根据需求可配不同的滤光片—蓝光/绿光/黄绿光,是一款有市场竞争力的表面瑕疵检查灯。
晶圆瑕疵检测灯SL9300参数
型号:SL9300便携桌面式检查灯;晶圆颗粒缺陷检查灯;Wafer表面检查灯
光 源:20W 高亮度进口LED加定制的光学镜片; LED平均寿命是30000小时
照度:16.9万LX→距离30cm;Ø 10cm直径的光圈(我们掌握了核心技术,它们可满足不同客户的要求)
照射面积: 10-16cm直径的光圈 在40cm的距离(通过调焦距调光)
调光方式: 无极调光:从0% ~ 100%;消耗功率:20 W
电源:采用110-220V电源供电(交流供电),可以24小时持续无间断工作。
平行光强的稳定性: > 90 %
产品尺寸:138 x10 mm(圆底座),臂长:600mm,灯头:63*116MM;重量:2.3KG(AC调光器除外)
晶圆瑕疵检测灯SL9300特点
1.1个大功率20瓦的LED,.真正冷光源,亮度达到18 万LX;照度相当15瓦的汞灯;使用寿命高达3万个小时;寿命是汞灯的10倍
2.产品的直径只有63MM,高度116MM(可以旋转无极调光),但是检查灯的亮度能达到18万LX,能满足客户的基本外观测试的需求;可以配不不同的滤光片—蓝光/绿光/黄绿光,是一款有市场竞争力的检查灯
3.使用定制的光学透镜和滤光片,检查灯的均匀性能达到80%以上;
产品的光均匀性及光斑大小,经检测证实效果要优于日、德同类产品。
4.发黄绿光和白光,人眼易感知且又不伤眼,可精确检查到1um以下的刮痕或微粒子;
5. 合理的外观设计,无风扇式散热设计—机械散热,能提供均匀且高亮度特殊波长和色温的检查光源;
6:可选择不同波段光源:
白光:刮伤以及对不同层次的镀膜均匀或微污染有很好的效果。
绿光:微刮伤、粉尘异物、液晶玻璃,70%以上的表面不良都可以被检出。尤其是表面的微刮伤。
黄光:微刻模具、半导体晶圆、蓝宝石。对镀膜检查效果不错。
Wafer晶圆表面颗粒缺陷检查灯SL8500系列简介
wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8500系列是一款黄绿光表面检查灯(或者是白光),检测灯的原理利用适合的LED灯源,通过光学镜片折射出特殊波长的光源,照在工件表面折射出光路,使得操作员肉眼可识别出工件表面的灰尘、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵点,取代传统的照明设备和光学系统机台,直接通过照明光线和肉眼,观测出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵,极大的节省了一般工厂的采购成本。 SL8500-GY黄绿光检查灯采用人眼最敏感510-590NM之间波长光,来做最简单与明确的判别,可精确检查到1um以下的刮痕或微粒子,并且具有绿光和黄光2种颜色的复合光,几乎可检测出所有尘埃,大大降低产品不良率。使用寿命为2万小时以上。光源强度可达15万LX,最小可以检测1μ的表面脏污,比传统的检查灯,效用增强10倍.。(注意:SL8500系列检查灯的亮度最高只有15万LX ;如果有更高的测试要求请使用SL8900和SL8600系列的检查灯,SL8600亮度最高有30万LX,SL8900的最高亮度是40万LX)(底部有视频讲解)。
wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8500参数规格
型号:SL8500-GY高照度晶圆LED检查灯;晶圆颗粒缺陷检查灯;Wafer表面检查灯
光 源:20W 高亮度进口LED加定制的光学镜片; LED平均寿命是30000小时
照度:距离40cm → 9万lx;距离30cm → 15万 lx(我们掌握了核心技术,我们可以提供不同照度的平行灯,它们可满足不同客户的要求)
照射面积: 8-16cm直径的光圈 在40cm的距离(通过调焦距调光)
调光方式: 无极调光:从0% ~ 100%;消耗功率:20 W
电源:采用110-220V电源供电(交流供电),可以24小时持续无间断工作。
平行光强的稳定性: > 90 %
产品尺寸:53 * 220mm; 净重: 0.53KG(不含配件
wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8500特点
1.1个大功率20W LED,.真正冷光源,亮度达到15万LX;照度相当100瓦的汞灯
2.LED使用寿命高达3万个小时;寿命是汞灯的10倍
3.使用定制的光学透镜和滤光片,检查灯的均匀性能达到90%以上;
产品的光均匀性及光斑大小,经检测证实效果要优于日、德同类产品。
4.发黄绿光和白光,人眼易感知且又不伤眼,可精确检查到10um以下的刮痕或微粒子;
5. 合理的外观设计,,能提供均匀且高亮度特殊波长和色温的检查光源;
6:可选择不同波段光源:365NM,455NM,525NM,595NM,625NM,6000K可以任意选择其中的一种波;
白光:刮伤以及对不同层次的镀膜均匀或微污染有很好的效果。
绿光:微刮伤、粉尘异物、液晶玻璃,70%以上的表面不良都可以被检出。尤其是表面的微刮伤。
黄光:微刻模具、半导体晶圆、蓝宝石。对镀膜检查效果不错。
wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8500应用
LCD滤光片、偏光板、晶圆、半导体、 玻璃或金属表面刮痕及灰尘检查、 液晶玻璃、微刻模具、半导体晶圆、蓝宝石
wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8600简介
wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8600系列是一款黄绿光表面检查灯(或者是白光),检测灯的原理利用适合的LED灯源,通过光学镜片折射出特殊波长的光源,照在工件表面折射出光路,使得操作员肉眼可识别出工件表面的灰尘、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵点,取代传统的照明设备和光学系统机台,直接通过照明光线和肉眼,观测出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵,极大的节省了一般工厂的采购成本。 SL8600检查灯采用人眼最敏感510-590NM之间波长光,来做最简单与明确的判别,可精确检查到1um以下的刮痕或微粒子,并且具有绿光和黄光2种颜色的复合光,几乎可检测出所有尘埃,大大降低产品不良率。使用寿命为2万小时以上。光源强度可达30万LX,最小可以检测1μ的表面脏污,比传统的检查灯,效用增强10倍.SL8600可根据使用场景,使用便携手持式或桌面式(上在底座上即可)。(注意:SL8900和SL8600主要的区别是,SL8600的体积小,SL8600亮度最高只有30万LX,SL8900的最高亮度是40万LX)
wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8600参数规格
型号:SL8600-GY高照度晶圆LED检查灯;晶圆颗粒缺陷检查灯;Wafer表面检查灯光 源:30W 高亮度进口LED加定制的光学镜片; LED平均寿命是30000小时
照度:距离40cm → 20万lx;距离30cm → 30万 lx(我们掌握了核心技术,我们可以提供不同照度的平行灯,它们可满足不同客户的要求)
照射面积: 8-16cm直径的光圈 在40cm的距离(通过调焦距调光)
调光方式: 无极调光:从0% ~ 100%;消耗功率:30 W
电源:采用110-220V电源供电(交流供电),可以24小时持续无间断工作。
平行光强的稳定性: > 90 %
产品尺寸:73 * 180mm; 净重: 0.68KG(不含配件)
wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8600特点
1.1个大功率LED,.真正冷光源,亮度达到30万LX;照度相当200瓦的汞灯
2.LED使用寿命高达3万个小时;寿命是汞灯的10倍
3.使用定制的光学透镜和滤光片,检查灯的均匀性能达到80%以上;
产品的光均匀性及光斑大小,经检测证实效果要优于日、德同类产品。
4.发黄绿光和白光,人眼易感知且又不伤眼,可精确检查到10um以下的刮痕或微粒子;
5. 合理的外观设计,无风扇式散热设计—机械散热,能提供均匀且高亮度特殊波长和色温的检查光源;
6:可选择不同波段光源:365NM,455NM,525NM,595NM,625NM,6000K可以任意选择其中的一种波;
白光:刮伤以及对不同层次的镀膜均匀或微污染有很好的效果。
绿光:微刮伤、粉尘异物、液晶玻璃,70%以上的表面不良都可以被检出。尤其是表面的微刮伤。
黄光:微刻模具、半导体晶圆、蓝宝石。对镀膜检查效果不错。
wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8600应用
液晶玻璃、微刻模具、半导体晶圆、蓝宝石……表面瑕疵检测
wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8600简介
wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8600系列是一款黄绿光表面检查灯(或者是白光),检测灯的原理利用适合的LED灯源,通过光学镜片折射出特殊波长的光源,照在工件表面折射出光路,使得操作员肉眼可识别出工件表面的灰尘、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵点,取代传统的照明设备和光学系统机台,直接通过照明光线和肉眼,观测出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵,极大的节省了一般工厂的采购成本。 SL8600检查灯采用人眼最敏感510-590NM之间波长光,来做最简单与明确的判别,可精确检查到1um以下的刮痕或微粒子,并且具有绿光和黄光2种颜色的复合光,几乎可检测出所有尘埃,大大降低产品不良率。使用寿命为2万小时以上。光源强度可达30万LX,最小可以检测1μ的表面脏污,比传统的检查灯,效用增强10倍.SL8600可根据使用场景,使用便携手持式或桌面式(上在底座上即可)。(注意:SL8900和SL8600主要的区别是,SL8600的体积小,SL8600亮度最高只有30万LX,SL8900的最高亮度是40万LX)
wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8600参数规格
型号:SL8600-GY高照度晶圆LED检查灯;晶圆颗粒缺陷检查灯;Wafer表面检查灯光 源:30W 高亮度进口LED加定制的光学镜片; LED平均寿命是30000小时
照度:距离40cm → 20万lx;距离30cm → 30万 lx(我们掌握了核心技术,我们可以提供不同照度的平行灯,它们可满足不同客户的要求)
照射面积: 8-16cm直径的光圈 在40cm的距离(通过调焦距调光)
调光方式: 无极调光:从0% ~ 100%;消耗功率:30 W
电源:采用110-220V电源供电(交流供电),可以24小时持续无间断工作。
平行光强的稳定性: > 90 %
产品尺寸:73 * 180mm; 净重: 0.68KG(不含配件)
wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8600特点
1.1个大功率LED,.真正冷光源,亮度达到30万LX;照度相当200瓦的汞灯
2.LED使用寿命高达3万个小时;寿命是汞灯的10倍
3.使用定制的光学透镜和滤光片,检查灯的均匀性能达到80%以上;
产品的光均匀性及光斑大小,经检测证实效果要优于日、德同类产品。
4.发黄绿光和白光,人眼易感知且又不伤眼,可精确检查到10um以下的刮痕或微粒子;
5. 合理的外观设计,无风扇式散热设计—机械散热,能提供均匀且高亮度特殊波长和色温的检查光源;
6:可选择不同波段光源:365NM,455NM,525NM,595NM,625NM,6000K可以任意选择其中的一种波;
白光:刮伤以及对不同层次的镀膜均匀或微污染有很好的效果。
绿光:微刮伤、粉尘异物、液晶玻璃,70%以上的表面不良都可以被检出。尤其是表面的微刮伤。
黄光:微刻模具、半导体晶圆、蓝宝石。对镀膜检查效果不错。
wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8600
wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8600应用
液晶玻璃、微刻模具、半导体晶圆、蓝宝石……表面瑕疵检测
wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8600简介
wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8600系列是一款黄绿光表面检查灯(或者是白光),检测灯的原理利用适合的LED灯源,通过光学镜片折射出特殊波长的光源,照在工件表面折射出光路,使得操作员肉眼可识别出工件表面的灰尘、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵点,取代传统的照明设备和光学系统机台,直接通过照明光线和肉眼,观测出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵,极大的节省了一般工厂的采购成本。 SL8600检查灯采用人眼最敏感510-590NM之间波长光,来做最简单与明确的判别,可精确检查到1um以下的刮痕或微粒子,并且具有绿光和黄光2种颜色的复合光,几乎可检测出所有尘埃,大大降低产品不良率。使用寿命为2万小时以上。光源强度可达30万LX,最小可以检测1μ的表面脏污,比传统的检查灯,效用增强10倍.SL8600可根据使用场景,使用便携手持式或桌面式(上在底座上即可)。(注意:SL8900和SL8600主要的区别是,SL8600的体积小,SL8600亮度最高只有30万LX,SL8900的最高亮度是40万LX)
wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8600参数规格
型号:SL8600-GY高照度晶圆LED检查灯;晶圆颗粒缺陷检查灯;Wafer表面检查灯光 源:30W 高亮度进口LED加定制的光学镜片; LED平均寿命是30000小时
照度:距离40cm → 20万lx;距离30cm → 30万 lx(我们掌握了核心技术,我们可以提供不同照度的平行灯,它们可满足不同客户的要求)
照射面积: 8-16cm直径的光圈 在40cm的距离(通过调焦距调光)
调光方式: 无极调光:从0% ~ 100%;消耗功率:30 W
电源:采用110-220V电源供电(交流供电),可以24小时持续无间断工作。
平行光强的稳定性: > 90 %
产品尺寸:73 * 180mm; 净重: 0.68KG(不含配件)
wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8600特点
1.1个大功率LED,.真正冷光源,亮度达到30万LX;照度相当200瓦的汞灯
2.LED使用寿命高达3万个小时;寿命是汞灯的10倍
3.使用定制的光学透镜和滤光片,检查灯的均匀性能达到80%以上;
产品的光均匀性及光斑大小,经检测证实效果要优于日、德同类产品。
4.发黄绿光和白光,人眼易感知且又不伤眼,可精确检查到10um以下的刮痕或微粒子;
5. 合理的外观设计,无风扇式散热设计—机械散热,能提供均匀且高亮度特殊波长和色温的检查光源;
6:可选择不同波段光源:365NM,455NM,525NM,595NM,625NM,6000K可以任意选择其中的一种波;
白光:刮伤以及对不同层次的镀膜均匀或微污染有很好的效果。
绿光:微刮伤、粉尘异物、液晶玻璃,70%以上的表面不良都可以被检出。尤其是表面的微刮伤。
黄光:微刻模具、半导体晶圆、蓝宝石。对镀膜检查效果不错。
wafer晶圆颗粒缺陷检查灯SL8600应用
液晶玻璃、微刻模具、半导体晶圆、蓝宝石……表面瑕疵检测
半导体wafer晶圆缺陷表面检查灯SL8900简介:
半导体wafer晶圆颗粒缺陷表面检查灯SL8900是一款黄绿光表面检查灯(或者是白光),人眼敏感的黄绿光照在工件表面折射出光路,使得操作员肉眼很容易识别出半导体(晶圆/晶片)表面的缺陷,提高工作效率。SL8900可精确检查到1um以下的瑕疵缺陷,拥有有绿光和黄光2种颜色的复合光,光源强度可达40万LX,比传统的检查灯,效用增强10倍!SL8900除了可以应用在半导体晶圆晶片表面瑕疵检查,还可以检查例如:液晶玻璃、液晶屏幕、汽车玻璃、基材……表面的灰尘、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵。
半导体wafer晶圆缺陷表面检查灯SL8900参数:
型号:SL8900-GY 光 源:30W 高亮度进口LED加定制的光学镜片; LED平均寿命是30000小时
照度:距离40cm → 28万lx;距离30cm → 40万 lx(我们掌握了核心技术,我们可以提供不同照度的平行灯,它们可满足不同客户的要求)
照射面积: 9-20cm直径的光圈 在40cm的距离(通过调焦距调光)
调光方式: 无极调光:从0% ~ 100%;
消耗功率:30 W
电源:调光器(输入110-240V,输出12-24V,2A),可以24小时持续无间断工作。
平行光强的稳定性: > 90 %
产品尺寸:86 * 200mm; 净重: 1.18KG(不含配件)
半导体wafer晶圆颗粒缺陷表面检查灯SL8900特点
1.1个大功率LED,.真正冷光源,亮度达到40万LX;照度相当200瓦的汞灯
2.LED使用寿命高达3万个小时;寿命是汞灯的10倍
3.使用定制的光学透镜和滤光片,检查灯的均匀性能达到80%以上; 产品的光均匀性及光斑大小,经检测证实效果要优于日、德同类产品。
4.发黄绿光和白光,人眼易感知且又不伤眼,可精确检查到10um以下的刮痕或微粒子;
5. 合理的外观设计,无风扇式散热设计—机械散热,能提供均匀且高亮度特殊波长和色温的检查光源;
6:可选择不同波段光源:365NM,455NM,525NM,595NM,625NM,6000K可以任意选择其中的一种波;
白光:刮伤以及对不同层次的镀膜均匀或微污染有很好的效果。
绿光:微刮伤、粉尘异物、液晶玻璃,70%以上的表面不良都可以被检出。尤其是表面的微刮伤。
黄光:微刻模具、半导体晶圆、蓝宝石。对镀膜检查效果不错。
半导体wafer晶圆缺陷表面检查灯SL8900简介及代号
SL-8900XX UV
代表高强度365NM紫外灯;
B代表455NM蓝光;G代表525NM绿光;
A代表595NM黄光;R代表625NM红光;
GY代表510-595NM黄绿光;
W代表4000-600K的白光
SL8900BL:也可以定制使用锂电池组的(如有特殊要求请跟我们沟通)
半导体wafer晶圆缺陷表面检查灯SL8900应用
液晶玻璃、微刻模具、半导体晶圆、蓝宝石
企业文化
公司使命
解决工业产品表面瑕疵检查,提高产品的品质;
公司愿景
专注解决各种工业表面人工测试方案的领先者;
公司价值观
专业服务、创造价值、工匠精神.
创业之初
经过10多年的发展,我们已经服务和合作过很多行业内的大客户,半导体行业内的海思,国盛,泰美克等;LCD行业内的京东方,伯恩光学,华佳彩,TPK等;汽车行业内福田康明斯,潍才动力等;已经掌握了高压气体放电紫外灯的技术,以及多个光学透镜和镜片组合的核心技术,可以按照客户的要求晶圆AOI检测设备定制和出特别的方案。
今日荧鸿
利用我们累计的技术和行业经验,为更多行业内的客户服务,开发出各种适应产业链上下游的不同企业的产品,为企业提高产品的品质而服务
未来荧鸿
立足现在,展望未来,生物和自动化是未来的发展方向,利用自身优势,积极参与生物,半导体等检测;把自己的产品融入生物,半导体的测试中;不断提升企业的竞争力。
发展历程
公司发展史:
2017年,牛顿环表面检查灯成功推出;
2015年,系列玻璃面板表面检查灯成功推出;
2014年,大面积可调光紫外灯SL8108系统推出;
2013年,荧鸿科技有限公司成立,专注国内市场;
2012年,多组光学透镜研发成功;
2010年,UVL110紫外灯推出,紫外线强度高达25000uw/cm2以上;
2009年,定制的AT069紫外灯专用反光板成功开发;
2008年,高压气体灯泡技术研发成功,RAT073-UV推出;
2006年,HK Sunlonge INT’L Co., Limited成立;
法律声明
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